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加利福尼亞州圣何塞2022年5月24日 /美通社/ -- 領(lǐng)先的端到端數(shù)字病理學(xué)解決方案提供商OptraSCAN®宣布，其數(shù)字病理學(xué)掃描儀OS-SiA已獲得美國專利商標(biāo)局授予美國專利，編號(hào)2020/0334814 A1。OS-SiA采用內(nèi)置智能技術(shù)設(shè)計(jì)，可同時(shí)對(duì)病理樣本進(jìn)行掃描、索引和分析。這將使最終用戶能夠在審查過程中查看整個(gè)切片掃描圖像，并附加分析結(jié)果。
該項(xiàng)專利描述了OptraSCAN公司發(fā)明的一種技術(shù)：人工智能數(shù)字病理掃描儀OS-SiA可自動(dòng)識(shí)別樣本以進(jìn)行掃描，同時(shí)對(duì)掃描組織或細(xì)胞區(qū)域進(jìn)行分析。OS-SiA是業(yè)界首款人工智能數(shù)字掃描儀，可提供實(shí)時(shí)預(yù)測性分析和可行的見解。
OptraSCAN創(chuàng)始人兼首席執(zhí)行官Abhi Gholap表示："目前，數(shù)字病理切片掃描儀僅限于采集部分或全部切片圖像并將其進(jìn)行數(shù)字化成像。我們的下一代掃描儀OS-SiA可以同時(shí)進(jìn)行掃描和分析，無需額外的處理應(yīng)用程序， 這項(xiàng)專利凸顯了我們?yōu)楦倪M(jìn)數(shù)字病理學(xué)解決方案的采用和支持病理學(xué)界而不斷做出的努力。"
OS-SiA可嵌入其現(xiàn)有的云技術(shù)明場系列掃描儀，即OS-Lite和OS-Ultra。定制算法可在掃描時(shí)提供實(shí)時(shí)ROI檢測、IHC/HNE標(biāo)志物的細(xì)胞定量，以及使用核心庫構(gòu)建的形態(tài)學(xué)測量。整個(gè)切片圖像可通過本地/網(wǎng)絡(luò)/云技術(shù)影像檢視器查看。深度學(xué)習(xí)計(jì)算模塊可實(shí)現(xiàn)掃描設(shè)備自我學(xué)習(xí)。
"這是我們加速采用數(shù)字病理學(xué)所需的突破，同時(shí)進(jìn)行掃描和分析將幫助病理學(xué)家做出更快的決策并改善患者預(yù)后"， OptraSCAN醫(yī)學(xué)顧問、 不列顛哥倫比亞大學(xué)病理學(xué)系主任Zu-Hua Gao博士表示。
